![Prosessirefraktometri Vaisala K‑PATENTS® PR-43-G Prosessirefraktometri vaisala k-Patents®Pr-43-G](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-process-refractometer-PR-43-G-1280x960.jpg?itok=B4wp6OsS)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GP ja MI prosessirefraktometri vaisala k-Patents®Pr-43-GP JA MI Prosessirefraktometri](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GP-and-MI-1280x960.jpg?itok=mx2TLqML)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GP ja CI prosessirefraktometri vaisala k-Patents®Pr-43-GP JA CI Prosessirefraktometri](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GP-and-CI-1280x960.jpg?itok=8RJwNTwC)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GC ja MI prosessirefraktometri vaisala k-Patents®Pr-43-GC JA MI Prosessirefraktometri](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GC-and-MI-1280x960.jpg?itok=DhsO_Eo9)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GC ja CI prosessirefraktometri vaisala k-Patents®Pr-43-GC JA CI Prosessirefraktometri](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GC-and-CI-1280x960.jpg?itok=dPBxqcCK)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GP prosessirefraktometri kahden tuuman putkessa Vaisala k-Patents®Pr-43-GP Prosessirefraktometri Kahden Tuuman Putkessa](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GP-in-2-inch-pipe-1280x960.jpg?itok=c9BYETak)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GP prosessirefraktometri, kahden tuuman laippa-FTC kahden tuuman putkessa VAISALA K-Patents®Pr-43-GP Prosessirefraktometri,Kahden Tuuman Laippa-FTC Kahden Tuuman Putkessa](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GP-2inch-Flange-FTC-in-2inch-pipe-1280x960.jpg?itok=taqhkw4a)
![Vaisala K‑PATENTS® PR-43-GC prosessirefraktometri kahden tuuman putkessa Vaisala k-Patents®Pr-43-GC Prosessirefraktometri Kahden Tuuman Putkessa](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-PR-43-GC-in-2-inch-pipe-1280x960.jpg?itok=ayYf3fB2)
![Monikanavainen MI-käyttöliittymä ja käyttäjä Monikanavainen Mi-KäyttöliittymäjaKäyttäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjäjj](/sites/default/files/styles/product_main/public/images/PROD-MI-with-user-industrial-1280x960.jpg?itok=99jeOoQA)
vaisala k-Patents®Pr-43-g Prosessirefraktometri
YleiskäyttöönSopivavaisala k-patents prosessirefraktometri pr-43-g在tehtyKestään上。在Ihanteellinen Yleismittalaite nestepitouden ja tiheyden mittaukseen monissa teollisuudenkäyttökohteissa上。PR-43-G:NerittäinTarkkaMittausteknologia toimii vaativissa prosessinohjausolosuhteissa,Joissa Perinteisettiheydenmittauslaitslaittauslaittaeeteeteeiväteeivätoleriittäutätourrrranprosessivirran kiiivirran kiiIntoIntoiksi vuitplen。
RefraktometrijärjestelmäkoostuuKompaktistataimittapätättävästävästäraktometristasekägraafisestaKäyttöliittymästä。在Itsenäisestitoimiva laite,JotavoidaanKäyttääMyösFyysisenkäyttöliittymänKanssa上进行crodraktometri。Sen Mittausalue在0–100 Prosenttia,Ja se tuottaa reaaliaikaista prosessinohjausta varten ethenet-lähtösignaalintai 4-20 Ma:Nlähtösignaalin,joka,joka,suhteessalämpöptilakompounpensoiToiSuisususurvoon。Käyttöliittymävalikoimassa on niin kestäviä, monikanavaisia teollisuustietokoneita kuin kompakteja liittymiä ja verkkopohjainen versio, joten käyttäjä voi valita käyttötarkoituksen kannalta parhaan tavan hyödyntää refraktometrien mittaus- ja diagnostiikkatietoja.
Refraktometrinsisäisenverkkopalvelimen ja Mittalaitteen verkkosivun avulla avullakäyttäjävoivoi vai valvoa ja konfiguroidatoimintojasekäasekäsekätehdädehdädehdädiaborikkatoikkatoikkatoikkatoimiaerostiikkatoimia ethernet ethernet-enernet-yhteyden kaautta。Jokainen Pr-43-G-Refraktometri tuottaaMyösMa-Lähtösignaalinohjausta varten。Saatavana上的Märkäosienerityismateriaaleja ja vaarallisten alueiden sertifioinnit。
Mittaus toimii Luotettavasti Vaativissa Prosessiolosuhteissa,Joissa,Paljon Kiintoaineita,Hiukkasia,Kuplia,Kuplia,äkillisiävirtauksiatai Hiovia tai HioviajaSyövyttäviäaineita。
tärkeimmäthyödyt
Prosessirefraktometrissäeiole lainkaan valoja tai liikkuvia osia,jotkatarvitsisivatsäännöllistähuoltoatai kalibrointia。tämätarkoittaaasiakkaalle alhaisia omistuskustannuksia。
Vaisala K-PATENTS -prosessirefraktometri käyttää ainutlaatuista digitaalista anturiteknologiaa, jolla saadaan luotettava ja vakaa mittaustulo ja kalibrointi jopa kaikkein vaativimmissa prosessiolosuhteissa.