糖

VAISALA K-PATENTS®工艺折射率和Seedmaster SM-3提供了准确可靠的Brix测量值，这是一种用于过饱和和糖结晶的独特监视器工具，以及从液相到MasseCuite的播种点控制覆盖过程条件。

折光仪应用

探索甘蔗和甜菜糖研磨和精炼中的所有折射仪应用

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Vaisala K-Patents^®工艺折射率用于在线液体浓度测量值，从而实现了支持工业自动化的高级过程控制。

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测量液体浓度

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Vaisala和我们的授权液体测量分销商提供了全面的客户服务，涵盖了Vaisala K -Patents折射率的整个生命周期，并提供申请支持。请参阅此页面的折光计服务。